本書我們著重介紹了TERS和TEF的原理及其主要應(yīng)用。TERS作為拉曼光譜和掃描探針顯微鏡（SPM）的結(jié)合，能夠提供一種高靈敏度和高空間分辨率的光學(xué)分析手段�；诘入x激元和等離激元梯度增強的HV-TERS近場梯度效應(yīng)則是納米尺度里*新發(fā)展起來的超靈敏光學(xué)和光譜分析技術(shù)。通過利用HV-TERS，我們不僅可以探測到超靈敏拉曼光譜，也能探測到分子的紅外光譜。此外，TEF能顯著增強熒光強度，并大幅減少熒光的譜線寬度。因此，在*后一章我們提出了一種基于TERS-TEF結(jié)合的設(shè)計，能同時獲得TERS和TEF數(shù)據(jù)的方法。
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